| 标题 |
Characterization of oxide scales thermally formed on single-crystal silicon carbide |
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10.1093/jmicro/dfq039
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期刊:J Electron Microsc (Tokyo) 作者:Chayasombat B, Kato T, Hirayama T, Tokunaga T, Sasaki K, Kuroda K 出版日期:2010-06-16 |
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(2025-6-4)