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Degradation Behavior and Mechanism of SiC Power MOSFETs Under Repetitive Transmission Line Pulse Stress |
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期刊:IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics 作者:X. B. Xu; Y. Q. Chen; Y. Chen; Z. H. Fan; Q. R. Wei; et al 出版日期:2022-12-01 |
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