| 标题 |
 专利、报告等 Dataset of electrical and thermal measurements of Si IGBT under accelerated power-cycling aging 相关领域
绝缘栅双极晶体管
结温
可靠性（半导体）
动力循环
材料科学
饱和电流
温度测量
热阻
热的
功率半导体器件
温度循环
降级（电信）
可靠性工程
电子工程
热失控
电压
热传导
晶体管
电气工程
预言
功率（物理）
失效模式及影响分析
电力电子
双极结晶体管
饱和（图论）
硅
光电子学
加速老化
核工程
电流（流体）
散热片
表征（材料科学）
电阻和电导
高压
试验方法
过程（计算）
瞬态（计算机编程）
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| 网址 | |
| DOI |
10.34810/data3204
doi
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| 其它 |
期刊：CORA.Repositori de Dades de Recerca 作者：Quirc Perez-Farre; Alejandro Paredes Camacho; Carlos López Torres; Antoni Garcia Espinosa 出版日期：2026-01-01 |
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(2025-6-4)
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