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Lowest I OFF −21 A/μm in capacitorless DRAM achieved by Reactive Ion Etch of IGZO-TFT |
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期刊:2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) 作者:A. Belmonte; S. Kundu; S. Subhechha; A. Chasin; N. Rassoul; et al 出版日期:2023-07-24 |
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