| 标题 |
Enhancement of positive bevel β-Ga2O3 trench MOS barrier Schottky diode by post-etching treatment |
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| DOI |
10.1016/j.apsusc.2024.161569
doi
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| 其它 |
期刊:Applied Surface Science 作者:Fang Zhang; Xue Feng Zheng; Ye Hong Li; Zi Jian Yuan; Shao Zhong Yue; et al 出版日期:2024-11-13 |
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(2025-6-4)