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Hot-Carrier Injection-Induced Disturb and Improvement Methods in 3D NAND Flash Memory |
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期刊:2019 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Application (VLSI-TSA) 作者:Wei-Liang Lin; Wen-Jer Tsai; C.C. Cheng; Chun-Chang Lu; S.H. Ku; et al 出版日期:2019-08-23 |
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