| 标题 |
 Evolution of phases and ferroelectric properties of thin Hf0.5Zr0.5O2 films according to the thickness and annealing temperature Hf0.5Zr 0.5 O2薄膜的相和铁电性能随厚度和退火温度的变化
相关领域
单斜晶系
正交晶系
四方晶系
铁电性
材料科学
电介质
退火（玻璃）
极化（电化学）
结晶学
晶体结构
矿物学
复合材料
化学
光电子学
物理化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
浮游
Criminology34
爱静静
风清扬
vippp
LPPQBB
哈基米德
小青椒
彭于彦祖
wlscj
8R60d8
遇上就这样吧
6666
无心客
GingerF
LHX
子车茗
Luna
GPTea
dodo
sissiarno
caizhonglun
amberzyc
eric888
皖公网安备34019202002308
