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Preparing Smaller InP Quantum Dots by Suppressing Over‐Etch Using Core Protective Layer and Ammonium Fluoride as Alternative Etchant 用芯保护层和氟化铵作为替代蚀刻剂抑制过蚀刻制备更小的InP量子点
相关领域
材料科学
量子点
蚀刻(微加工)
图层(电子)
芯(光纤)
氟化物
氟化铵
光电子学
纳米技术
无机化学
复合材料
化学
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| 其它 |
期刊:Advanced Optical Materials 作者:Hsueh‐Shih Chen; Chang‐Wei Yeh; Hsuan‐Yu Lee; Yi‐Ping Ho 出版日期:2024-12-06 |
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