标题 |
![]() 利用光谱椭圆偏法和第一性原理计算研究空位缺陷引起的二氧化氮电子和光学性质的变化
相关领域
非阻塞I/O
材料科学
带隙
空位缺陷
密度泛函理论
半导体
态密度
X射线光电子能谱
凝聚态物理
光电子学
化学
计算化学
核磁共振
物理
生物化学
催化作用
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:Kingsley O. Egbo; Chao Liu; Chinedu Ekuma; Kin Man Yu 出版日期:2020-10-07 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|