| 标题 |
In Situ Atomic‐Scale Observation of Monolayer MoS2 Devices under High‐Voltage Biasing via Transmission Electron Microscopy |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Small 作者:Yi‐Tang Tseng; Li‐Syuan Lu; Fang‐Chun Shen; Che‐Hung Wang; Hsin‐Ya Sung; et al 出版日期:2022-01-07 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)