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XPS Peak-Fitting of 2H MoS 2 , 1T MoS 2 , and MoS 2-X Nanosheets in MoS 2 Powders and Battery Electrodes After Ar + Ion Depth-Profiling 相关领域
X射线光电子能谱
氩
分析化学(期刊)
拉曼光谱
电极
材料科学
离子
纳米尺度
结合能
蚀刻(微加工)
亚稳态
反应离子刻蚀
二硫化钼
相(物质)
光谱学
钼
纳米
电离
原位
光电发射光谱学
化学
氧化物
限制
电化学
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期刊:ACS applied nano materials 作者:Alexandar D. Marinov; Adam J. Clancy; Christopher A. Howard; Patrick L. Cullen 出版日期:2026-01-06 |
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