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Effects of thermal oxidation duration on the structural and electrical properties of Nd2O3/Si system 热氧化时间对Nd2O3/Si体系结构和电学性能的影响
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期刊:Applied Physics A 作者:Karuppiah Hetherin; S. Ramesh; Yew Hoong Wong 出版日期:2017-07-10 |
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