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  Experimental identification of defect-induced destructive breakdown of AlGaN ultraviolet avalanche photodiodes AlGaN紫外雪崩光电二极管缺陷诱导击穿的实验鉴定
相关领域
材料科学
腐蚀
击穿电压
雪崩光电二极管
光电子学
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光电二极管
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期刊：AIP Advances 作者：Fan Yang; Fucheng Yang; Jintong Xu; Xiangyang Li 出版日期：2024-03-01 |
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