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[高分]
 书籍 过电应力(EOS)器件 电路与系统 |
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《过电应力（EOS）器件、电路与系统》由美国电气电子工程师学会会士Steven H. Voldman原著，雷鑑铭翻译，2016年3月机械工业出版社出版。该书为“国际电气工程先进技术译丛”系列丛书之一，ISBN 9787111523185，全书共286页，定价79元 [1-2] [4]。 全书系统阐述过电应力现象的基础理论、失效机制及防护设计方法，涵盖EOS源分析、热力学模型、测试仿真技术、半导体工艺防护设计等内容。书中结合EDA工具验证方法和PCB设计准则，分析EOS与ESD/EMI/EMC的关联性，涉及芯片级设计、电子设计自动化应用及失效预防策略 [2-4]。作为半导体可靠性研究的延续性著作，该书为集成电路设计工程师、系统ESD工程师及微电子专业学生提供技术参考 [1] [3]。 |
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(2025-6-4)
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