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![]() 基于SPTI模型的SOI-MOSFETs特性高温稳定性分析
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Lida Xu; Linchun Gao; Tao Ni; Sheng Wang; Z. Cao; et al 出版日期:2023-08-03 |
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liuxch5
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