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![]() 氧化铝对纳米织构黑硅表面复合沟道的有效抑制:溅射和ALD生长薄膜的比较
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Piyush K. Parashar; Sami Kinnunen; Timo Sajavaara; J. Jussi Toppari; Vamsi K. Komarala 出版日期:2021-08-25 |
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