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 Impact of Interface Traps on Reliability in Negative Capacitance Source Pocket Double Gate TFET 负电容源口袋型双栅TFET中界面陷阱对可靠性的影响
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期刊：Arabian Journal for Science and Engineering 作者：K. Murali Chandra Babu; Ekta Goel 出版日期：2025-01-08 |
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(2025-6-4)
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