Impact of Interface Traps on Reliability in Negative Capacitance Source Pocket Double Gate TFET

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作者
K. Murali Chandra Babu,Ekta Goel
出处
期刊:Arabian journal for science and engineering [Springer Science+Business Media]
卷期号:50 (14): 10855-10868 被引量:1
标识
DOI:10.1007/s13369-025-09959-1
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