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![]() 通过改进底部沟道界面提高双栅结构氧化物薄膜晶体管在正偏压温度应力下的稳定性
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期刊:ECS Transactions 作者:Kyoung‐Seok Son; Myoeng-Ho Kim; Seunghun Lee; Youn-Goo Kim; Jaybum Kim; et al 出版日期:2024-09-27 |
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2025-08-26 23:08:51 发布,悬赏 10 积分
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