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 An electronic energy model for multi-stacking faults in reducing carrier lifetime in 4H-SiC epitaxial layers 4H-SiC外延层中多层错降低载流子寿命的电子能量模型
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期刊：Journal of Crystal Growth 作者：Pengxiang Hou; Pin Wang; Yifei Li; Weiliang Zhong; Yuebin Han; et al 出版日期：2024-11-14 |
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