标题 |
Kelvin probe force microscopy for the characterization of semiconductor surfaces in chalcopyrite solar cells
用开尔文探针力显微镜表征黄铜矿太阳电池半导体表面
相关领域
黄铜矿
异质结
开尔文探针力显微镜
带材弯曲
材料科学
光电子学
外延
半导体
太阳能电池
图层(电子)
表征(材料科学)
金属有机气相外延
沉积(地质)
薄膜
表面光电压
纳米技术
原子力显微镜
铜
冶金
物理
古生物学
量子力学
沉积物
光谱学
生物
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其它 |
期刊:Surface science 作者:Ch. Sommerhalter; Sascha Sadewasser; Thilo Glatzel; Th.W. Matthes; Arnulf Jäger-Waldau; et al 出版日期:2001-06-01 |
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