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 Short-Circuit Capability with GaN HEMTs : Invited GaN HEMT的短路能力：邀请
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期刊：2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者：Davide Bisi; Bill Cruse; Philip Zuk; P. Parikh; Umesh K. Mishra; et al 出版日期：2022-03-01 |
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