Investigation of the damage profiles and mechanisms of CMOS devices subjected to continuous and pulsed laser exposure

材料科学 量子光学 激光器 CMOS芯片 光电子学 光学 脉冲激光器 物理
作者
Haixin Zhang,Yunfei Li,Hao Chang,Yu Yu,Gong Wang,Yulei Wang,Zhiwei Lü
出处
期刊:Applied Physics B [Springer Science+Business Media]
卷期号:131 (4) 被引量:4
标识
DOI:10.1007/s00340-025-08427-w
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