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作者
D.G. Doran,S. T. Stephenson
出处
期刊:Physical Review
[American Physical Society]
日期:1957-02-15
卷期号:105 (4): 1156-1157
被引量:7
标识
DOI:10.1103/physrev.105.1156
摘要
The extended fine structure on the short wavelength side of the $K$ x-ray absorption edge of Ge in a thin single crystal of Ge has been studied by using a double-crystal spectrometer. Extended structure was obtained out to 300 ev from the main edge. Positions of the structure observed are given.
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