Thermomechanical Reliabilities of Pb-Free Solder Joints According to Ag Content in Harsh Environment

焊接 材料科学 温度循环 热冲击 可靠性(半导体) 休克(循环) 冶金 热的 复合材料 物理 量子力学 医学 内科学 气象学 功率(物理)
作者
Jemin Kim,Dongweon Yoon
出处
期刊:IEEE Transactions on Reliability [Institute of Electrical and Electronics Engineers]
卷期号:72 (4): 1610-1618 被引量:7
标识
DOI:10.1109/tr.2023.3256405
摘要

Pb-free solders based on Sn-Ag-Cu are currently applied to electronic devices. This article investigates the thermomechanical reliability of three different compositions of Pb-free solder joints, Sn-1.0Ag-0.5Cu, Sn-1.2Ag-0.5Cu, and Sn-3.0Ag-0.5Cu in a harsh environment. First, we perform a temperature cycling test (TCT) and a thermal shock test (TST) at temperatures from –55 to 125 °C. In addition, we conduct a combined thermal shock and vibration test (TSVT) using a HALT chamber, at –65 to 150 °C and an acceleration of up to (15 ± 1) Grms, considering the automotive underhood environment. We then analyze the mean lifetimes for each test of Pb-free solder joints dependent on the Ag contents. Finally, we present the lifetime ratios of three different Pb-free solders between TCT and TST, and show that SAC1205 has a similar mean lifetime to SAC305 within about 0.34% in combined TSVT. The results of this article could provide a reference for selecting suitable Pb-free solders in industrial use over harsh environments.
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