Simulation of the electric field strength in the vicinity of metallization edges on dielectric substrates

电场 场强 材料科学 电介质 复合材料 电气工程 机械 凝聚态物理 计算物理学 光电子学 磁场 工程类 物理 量子力学
作者
Christoph Friedrich Bayer,Eberhard Baer,Uwe Waltrich,D. Malipaard,Andreas Schletz
出处
期刊:IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation [Institute of Electrical and Electronics Engineers]
卷期号:22 (1): 257-265 被引量:103
标识
DOI:10.1109/tdei.2014.004285
摘要

S.257-265

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