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作者
J. Cardoso,N. Ben Sédrine,Przemysław Jóźwik,Margaret Sequeira,Christian Wetzel,C. Grygiel,K. Lorenz,T. Monteiro,M. R. Correia
摘要
Xe SHI irradiation of InGaN/GaN MQWs leads to surface damage and intermixing at the interfaces. The introduced defects cause a strong quenching of the luminescence as well as a change in the excitation mechanisms.
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