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作者
D. Alders,F. C. Voogt,T. Hibma,G. A. Sawatzky
出处
期刊:Physical review
日期:1996-09-15
卷期号:54 (11): 7716-7719
被引量:157
标识
DOI:10.1103/physrevb.54.7716
摘要
We report on the layer thickness dependence of Ni 2p core-level line shapes of epitaxially grown, in a layer-by-layer fashion, NiO on a single-crystal MgO (100) substrate. The results demonstrate the sensitivity of the core-level line shape to the nearest as well as next-nearest-neighbor coordination number. The results are consistent with a recent theoretical study of nonlocal screening effects. \textcopyright{} 1996 The American Physical Society.
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