电子背散射衍射
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作者
Fulin Wang,McLean P. Echlin,Aidan A. Taylor,Jungho Shin,Benjamin Bammes,Barnaby D.A. Levin,Marc De Graef,Tresa M. Pollock,Daniel S. Gianola
出处
期刊:Ultramicroscopy
[Elsevier BV]
日期:2020-11-05
卷期号:220: 113160-113160
被引量:32
标识
DOI:10.1016/j.ultramic.2020.113160
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