Similarity searching for wafer bin maps by measuring shape, location, and size similarities of defect patterns

相似性(几何) 箱子 薄脆饼 数据挖掘 计算机科学 模式识别(心理学) 人工智能 工程制图 情报检索 工程类 材料科学 算法 纳米技术 图像(数学)
作者
Min‐Su Kang,Jin-Su Shin,Dong‐Hee Lee
出处
期刊:Computers & Industrial Engineering [Elsevier BV]
卷期号:196: 110486-110486 被引量:3
标识
DOI:10.1016/j.cie.2024.110486
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