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作者
Jarich Haitjema,Sonia Castellanos,Olivier Lugier,Ivan Bespalov,Rebecka Lindblad,Martin Timm,Christine Bülow,Vicente Zamudio‐Bayer,J. Tobias Lau,Bernd von Issendorff,R. Hoekstra,Katharina Witte,Benjamin Watts,Thomas Schlathölter,Albert M. Brouwer
摘要
K-edge photoexcitation of n -butyltin-oxo cage photoresist cores leads to (multiple) ionization and butyl group loss.
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