The durability of contemporary PV encapsulants relative to UV induced cell degradation
耐久性
降级（电信）
材料科学
光伏系统
工程物理
光电子学
复合材料
电子工程
电气工程
工程类
作者
Dennice M. Roberts,Xavier Hanna,David C. Miller,Rachael L. Arnold,Jimmy M. Newkirk,Kent Terwilliger,Steve Johnston,Rebecca B. Wai,Peter Hacke,Dana B. Kern
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(2025-6-4)
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