沟槽
可靠性(半导体)
材料科学
辐照
中子
光电子学
氧化物
栅氧化层
硅
核工程
放射化学
电气工程
物理
核物理学
化学
纳米技术
工程类
冶金
晶体管
电压
功率(物理)
量子力学
图层(电子)
作者
Lucas Barroso Spejo,Silvan Rehm,Vladimír Novák,Benedict Ammann,Philippe Würsch,Roger Stark,Lars Knoll,Nicola Schulz,Renato Amaral Minamisawa
标识
DOI:10.1109/ispsd59661.2024.10579671
科研通智能强力驱动
Strongly Powered by AbleSci AI