材料科学
钝化
光电子学
泄漏(经济)
晶体管
阈值电压
电子迁移率
栅氧化层
薄膜晶体管
击穿电压
电压
MOSFET
氮化硅
场效应晶体管
随时间变化的栅氧化层击穿
氮化物
电气工程
反向漏电流
和大门
电子
热载流子注入
绝缘体(电)
硅
功率半导体器件
感应高电子迁移率晶体管
作者
Yanhui Xing,Jie Shang,Zishuo Han,Guohao Yu,Xingjie Huang,Baoshun Zhang,Zhongming Zeng
标识
DOI:10.1016/j.mssp.2025.110208
科研通智能强力驱动
Strongly Powered by AbleSci AI