A new high-voltage H2S single noxious gas reliability test for power modules

可靠性（半导体）湿度电压功率（物理）可靠性工程腐蚀加速度材料科学试验方法结构工程工程类复合材料汽车工程法律工程学电气工程数学热力学物理统计经典力学

作者

T.N. Wassermann,Oliver Schilling,K.‐H. Müller,A.D. Rossin,Jan Uhlig

出处

期刊：Microelectronics Reliability [Elsevier BV]
日期：2019-09-01 卷期号：100-101: 113468-113468 被引量：12

标识

DOI：10.1016/j.microrel.2019.113468

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