电子断层摄影术
纳米材料
断层摄影术
材料科学
分辨率(逻辑)
电子
纳米技术
物理
光学
计算机科学
扫描透射电子显微镜
核物理学
透射电子显微镜
人工智能
作者
Bingsen Zhang,Dang Sheng Su
标识
DOI:10.1002/anie.201303804
摘要
No matter how you slice it: New insight into nanostructured materials is provided by a novel imaging technique, which reproduces the real three-dimensional (3D) fine structure of nanomaterials at the atomic level from two-dimensional (2D) projections (see scheme).
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