材料科学
铁电性
薄膜
光电子学
电介质
纳米技术
结晶学
凝聚态物理
物理
化学
作者
Chin-I Wang,Hsin-Yang Chen,Teng-Jan Chang,Yu-Sen Jiang,Chih‐Sheng Chang,Miin-Jang Chen
摘要
Thickness dependent ferroelectric characteristics of HZO are systematically demonstrated down to 3 nm, exhibiting low operation voltage and high endurance.
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