材料科学
薄膜晶体管
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氧化物薄膜晶体管
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镁
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绝缘体上的硅
薄膜
氧气
硅
绝缘体(电)
沉积(地质)
分析化学(期刊)
等效氧化层厚度
氧化物
栅氧化层
腔磁控管
溶解过程
电子迁移率
氟化镁
氧气压力
作者
Jong‐Hoon Lee,Hong Seung Kim,Sang Hyun Kim,Nak Won Jang,Young Yun
标识
DOI:10.1016/j.cap.2014.03.017
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