随时间变化的栅氧化层击穿
绝缘体上的硅
薄脆饼
栅氧化层
材料科学
氧化物
光电子学
介电强度
栅极电介质
电介质
硅
电子工程
电气工程
电压
晶体管
工程类
冶金
作者
Mikio Tsujiuchi,T. Iwamatsu,Hideki Naruoka,Hiroshi Umeda,T. Ippōshi,Shigeto Maegawa,Yasuo Inoue
标识
DOI:10.1016/s0169-4332(03)00419-7
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