威布尔分布
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电子工程
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实验数据
电路可靠性
试验数据
作者
Dahai Li,Li Long,Peng Peng,Zhaodong Lin,Yongjian Zhang,Cong Xu,Changan Di,Junsong Ren
标识
DOI:10.1016/j.microrel.2025.115905
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