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作者
Armin Richter,Stefan W. Glunz,Florian Werner,Jan Schmidt,Andrés Cuevas
出处
期刊:Physical Review B
[American Physical Society]
日期:2012-10-09
卷期号:86 (16)
被引量:837
标识
DOI:10.1103/physrevb.86.165202
摘要
An accurate quantitative description of the Auger recombination rate in silicon as a function of the dopant density and the carrier injection level is important to understand the physics of this fundamental mechanism and to predict the physical limits to
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