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作者
Chanhyeok Kim,Kihoon Kim,Young‐Min Kim,V.N. Tsvetkov,Nam Joong Jeon,Bong Joo Kang,Hanul Min
摘要
The defect density on the top surface of the perovskite thin film was significantly higher than that in the bulk. A trimming solvent treatment removed the defective top surface, substantially reducing the defect concentration and strain.
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