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作者
Yi Khang Ooi,Harikrishnan Ramiah,Kishore Kumar Pakkirisami Churchill,Andrea Ballo,Wen Xun Lian,Yong Chen
出处
期刊：IEEE Journal of Solid-state Circuits
[Institute of Electrical and Electronics Engineers]
日期：2025-01-01
卷期号：: 1-18
标识
DOI：10.1109/jssc.2025.3630125
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