Ferroelectric Schottky diodes of CuInP2S6 nanosheet

铁电性 材料科学 肖特基二极管 光电子学 极化(电化学) 二极管 半导体 纳米片 肖特基势垒 偏压 纳米技术 电压 电气工程 化学 电介质 工程类 物理化学
作者
Jinyuan Yao,Yongtao Liu,S.Q. Ding,Yanglin Zhu,Zhiqiang Mao,Sergei V. Kalinin,Ying Liu
出处
期刊:Applied Physics Letters [American Institute of Physics]
卷期号:123 (14) 被引量:11
标识
DOI:10.1063/5.0160928
摘要

Ferroelectricity in van der Waals (vdW) layered material has attracted a great deal of interest recently. CuInP2S6 (CIPS), the only vdW layered material whose ferroelectricity in the bulk was demonstrated by direct polarization measurements, was shown to remain ferroelectric down to a thickness of a few nanometers. However, its ferroelectric properties have just started to be explored in the context of potential device applications. We report here the preparation and measurements of metal-ferroelectric semiconductor-metal heterostructures using nanosheets of CIPS obtained by mechanical exfoliation. Four bias voltage and polarization dependent resistive states were observed in the current–voltage characteristics, which we attribute to the formation of ferroelectric Schottky diode, along with switching behavior.
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