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Cryogenic Characterization and Model Extraction of 5nm Technology Node FinFETs |
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期刊:2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) 作者:Shivendra Singh Parihar; Girish Pahwa; Jun Z. Huang; Weike Wang; Kimihiko Imura; et al 出版日期:2023-04-26 |
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