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 Integrated micro-Raman/infrared thermography probe for monitoring of self-heating in AlGaN/GaN transistor structures 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Andrei Sarua; Hangfeng Ji; Martin Kuball; Michael J. Uren; T. Martin; et al 出版日期：2006-09-29 |
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