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![]() 多晶硅发射极双极结晶体管和SiGe HBT中热载流子诱导缺陷噪声特性的新见解
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期刊:IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者:Kunfeng Zhu; Peijian Zhang; Zicheng Xu; Tao Wang; Xiaohui Yi; et al 出版日期:2023-01-01 |
求助人 |
Chandow
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2025-08-29 07:18:04 发布,悬赏 10 积分
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