| 标题 |
[高分]
Reliability modeling and testing of advanced QFN packages. 63rd Electronic Components and Technology Conference (ECTC) 相关领域
四平无引线包
球栅阵列
温度循环
芯片级封装
印刷电路板
焊接
圆角(机械)
可靠性(半导体)
集成电路封装
参数统计
包对包
工程类
机械工程
可靠性工程
集成电路
材料科学
热的
电气工程
炸薯条
薄脆饼
晶片切割
图层(电子)
数学
功率(物理)
物理
统计
气象学
复合材料
量子力学
胶粘剂
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)