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 X‐ray irradiation‐induced degradation in Hf 0.5 Zr 0.5 O 2 fully depleted silicon‐on‐insulator n‐type metal oxide semiconductor field‐effect transistors Hf 0.5 Zr 0.5 O2全耗尽绝缘体上硅n型金属氧化物半导体场效应晶体管的X射线辐照诱导退化
相关领域
材料科学
光电子学
辐照
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电介质
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半导体
电容
绝缘体上的硅
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硅
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期刊：Rare Metals 作者：Yudong Li; Qingzhu Zhang; Fanyu Liu; Zhaohao Zhang; Fengyuan Zhang; et al 出版日期：2020-09-24 |
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