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 Transient Negative Capacitance Induced by Charged Oxygen Vacancy Drift in HfO2‐Based Films 相关领域
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期刊：physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters 作者：Hao Dong; Xingwang Zhang; Yong Cheng; Jinliang Wu; Ling Zhang; et al 出版日期：2023-06-08 |
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